Hiukkasmittaus harppauksin eteenpäin

Julkaistu: 8.11.2006

Tekesin FINE Pienhiukkaset – Teknologia, ympäristö ja terveys -teknologiaohjelmassa on kehitetty pienhiukkasten mittausmenetelmiä ja -tekniikoita sekä tutkittu erilaisten mittalaitteiden soveltumista erityyppisiin hiukkasmittauksiin. Teollisuudessa hiukkasmittaussovellukset ovat laajenemassa yhä useampiin käyttökohteisiin.

Juuri ilmestyneessä Tekesin julkaisussa "Technologies for Measuring Particulates" on koottuna tuorein tieto yleistajuisessa muodossa.

Sitä mukaa kun tieto pienhiukkasten haitallisuudesta terveydelle ja ympäristölle on viime vuosina lisääntynyt, myös tarve hiukkasten ominaisuuksien ja pitoisuuksien tarkempaan selvittämiseen on herännyt. Pienhiukkasia koskeva lainsäädäntö vaatii omalta osaltaan mittausmenetelmien kehittämistä.

Uusien teknologisten ratkaisujen avulla on mahdollista vähentää päästöjä ja päästä yhä alhaisemmille päästötasoille, mutta tämä ei yksin riitä. Kehityksen mahdollistaa mittausteknologian voimakas kehittyminen. Tarvitaan teknologiaa, jota voidaan hyödyntää näytteenotossa, mittauksissa ja seurannassa koskien sekä prosesseja että ympäristöä. Kiireisimmin teknologiaa tarvitaan mittaamaan autojen hiukkaspäästöjä sekä pienimuotoisen energiantuotannon päästöjä, joita rajoittavat määräykset ovat tiukkenemassa.

Sen lisäksi, että FINE-ohjelma tuotti tietoa ja kehitti teknologioita pienhiukkasten mittaukseen, syvensi se verkottumista tutkijoiden ja teollisuuden asiantuntijoiden välillä.

Vaikka monet ohjelman projekteista keskittyivät tuotekehitykseen, tuottivat ne lisäksi tutkimustietoa perusasioista. Projekteissa kehitetyistä uusista tuotteista osa on jo kaupallistettu, mutta osaa edelleen jatkokehitetään. Uudet tuotteet eivät ole ainoastaan mittalaitteita, vaan käsittävät myös mittauspalveluita.

Mittaustarpeet lisääntymässä

Hiukkasten mittaus teollisuudessa on vahvassa kasvussa. Siellä mittausta käytetään prosessien ja laadun valvontaan sekä likaantumisen torjuntaan. Ympäristön tilan aktiivinen seuranta ja viranomaisvalvonta tarvitsevat myös uusia ratkaisuja. Lisäksi nanoteknologian esiinmarssi on lisännyt tarvetta pienhiukkasten mittaamiseen ja laitekehitykseen. 

Päästörajojen ja ilmanlaadulle asetettavien vaatimusten tiukentuessa mittauksen merkitys korostuu ja mittaamisesta tulee entistä vaativampaa. Uusien säännösten ja määräysten vaatimukset edellyttävät mittausmenetelmien ja -teknologioiden kehittämistä. FINE-ohjelman tuloksena syntyi myös tietoa, jota voidaan soveltaa uusiin innovaatioihin tulevaisuudessa tai jota voidaan hyödyntää hiukkasrajoitusten suunnittelussa. 

Keväällä 2006 päättyneessä nelivuotisessa FINE-teknologiaohjelmassa kehitys- ja tutkimustyötä tehtiin yli 50 projektissa. Ohjelmaan osallistui noin 60 yritystä ja yli 20 tutkimuslaitosta. Pienhiukkasten mittauksiin liittyviä projekteja toteutettiin 11 kappaletta.

Lisätietoja  

www.tekes.fi/fine

Technologies for Measuring Particulates www.tekes.fi/julkaisut/Fine_Mittaus.pdf

Teknologia-asiantuntija Mikko Moisio
puh. 050 337 4448
etunimi.sukunimi@tekes.fi

Professori Jorma Keskinen
puh. (03) 3115 2676
etunimi.sukunimi@tut.fi